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SD卡和CF卡測試系統(tǒng)的發(fā)展趨勢

由于這兩種卡的發(fā)展趨勢是大容量、更快、更安全，相應(yīng)的測試系統(tǒng)也朝著能夠滿足高速、穩(wěn)定和抗干擾能力的方向發(fā)展。

(1) 高速。（1）目前市場上兩種卡的速度卡可以達到數(shù)百兆，這對這兩種卡的測試系統(tǒng)提出了更高的要求。

(2) 安全。為了使測試更加安全，測試系統(tǒng)在高速環(huán)境下的穩(wěn)定性和抗干擾性也提出了更高的要求。

(3) 高效。我們不難發(fā)現(xiàn)，這兩種卡的測試系統(tǒng)只能同時測試一張卡，而且測試系統(tǒng)體積龐大。為了實現(xiàn)高效節(jié)能的目標(biāo)，兩種卡的高速測試系統(tǒng)已成為未來測試系統(tǒng)的主要發(fā)展方向。

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